Przejdź do głównej treści

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Proces rozpylania jako narzędzie do pomiaru wielkości domieszkowania grafenu – symulacje komputerowe.

Wersja pdf


Opiekun naukowy

Imię i nazwisko: prof. dr hab. Zbigniew Postawa
Email: zbigniew.postawa@uj.edu.pl
Zakład: Fizyki Nanostruktur i Nanotechnologii
Pracownia: Komputerowego Modelowania Powierzchni
Strona www grupy: http://zfnin.if.uj.edu.pl/pl/sites_groups/group_comp-sci.html

Krótki opis

Materiały dwuwymiarowe (2D) są obecnie przedmiotem intensywnych badań ze względu na ich unikalne właściwości optyczne i elektroniczne. Możliwość precyzyjnego dostrojenia przewodnictwa półprzewodników uzyskiwana dzięki kontrolowanemu domieszkowaniu, np. atomami boru, jest uważane za jeden z filarów technologii wytwarzania chipów. O ile sposób dokładnego pomiaru tego domieszkowania jest stosunkowo dobrze znany dla układów trójwymiarowych, to wciąż jest jednym z nierozwiązanych zagadnień w przypadku układów 2D ze względu na bardzo słaby sygnał.

Praca będzie dotyczyła opracowania wcześniej uzyskanych danych. Celem pracy będzie zbadania możliwości wykorzystania pomiarów liczby neutralnych atomów emitowanych z warstwy grafenowej bombardowanej pociskami C60, do określenia wielkości domieszkowania tej warstwy atomami boru. W tym celu będzie trzeba zbadać jaka jest zależność pomiędzy liczbą emitowanych atomów boru, a wielkością domieszkowania. Podczas praktyki będzie również można samodzielnie wykonać symulacje komputerowe na systemach supercomputerowych, oraz zapoznać się z technikami trójwymiarowej wizualizacji wyników symulacji komputerowych (grafika i animacje 3D).

Schemat modelowanego układu - grafen domieszkowany borem

Główne narzędzia badawcze

  • Symulacje komputerowe metodą dynamiki molekularnej (MD) - program LAMMPS

Wymagania w stosunku do kandydata

  • umiejętność pracy z komputerem
  • obsługa programów do analizy danych (np. SigmaPlot, Excel)

Możliwość kontynuowania praktyki studenckiej w postaci:

  • pracy dyplomowej (magisterskiej lub licencjackiej): Tak
  • pracy doktorskiej: Tak