Przejdź do głównej treści

Widok zawartości stron Widok zawartości stron

Badania układów biologicznych za pomocą Spektrometrii Mas Jonów Wtórnych i Spektroskopii Odbitego Światła Białego

Wersja pdf

Opiekun naukowy

Imię i nazwisko: dr hab. Kamil Awsiuk, dr Katarzyna Gajos
Email: kamil.awsiuk@uj.edu.pl, katarzyna.gajos@uj.edu.pl
Zakład: Zakład Biofizyki Molekularnej i Międzyfazowej
Pracownia: Pracownia Preparatyki Próbek Organicznych, Pracownia Mikroskopii Skaningowej Mezo i Nanostruktur, Pracownia TOF-SIMS
Strona www grupy: http://www.biophysics.fais.uj.edu.pl/

Krótki opis

Celem praktyki jest zapoznanie z technikami Spektometrii Mas Jonów Wtórnych (ToF-SIMS) i Spektrometrii Odbitego Światła Białego (WLRS) i ich możliwymi zastosowaniami do badania układów biologicznych takich jak warstwy białek czy komórki. Praktykant zapozna się również z metodami biofunkcjonalizacji powierzchni krzemowych stosowanymi np. do przygotowania powierzchni biosensorów. Badania za pomocą Spektrometrii Odbitego Światła Białego pozwalają na pomiar zamian grubości warstwy białek na powierzchni w czasie rzeczywistym umożliwiając analizę kinetyki adsorpcji, analizę specyficznych oddziaływań pomiędzy białkami, np. antygen – przeciwciało, oraz zastosowanie jako modelowy biosensor. Z kolei zastosowanie Spektrometrii Mas Jonów Wtórnych pozwoli na uzupełnienie tych pomiarów o analizę składu chemicznego powierzchni. Praktykant zapozna się z zasadami pomiarów i analizy danych ToF-SIMS, w celu analizy składu molekularnego oraz obrazowania chemicznego komórek i warstw białek.

Główne narzędzia badawcze

  • Spektrometria Mas Jonów Wtórnych (ToF-SIMS)
  • Spektroskopia Odbitego Światła Białego (WLRS)

Wymagania w stosunku do kandydata

  • brak

Możliwość kontynuowania praktyki studenckiej w postaci:

  • pracy dyplomowej (magisterskiej lub licencjackiej): Tak
  • pracy doktorskiej: Tak